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GK-PC-X16間歇壽命試驗系統(tǒng)

適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗和穩(wěn)態(tài)壽命試驗。

技術特點：

①在試驗的過程中實時測量樣品的結溫，并顯示結溫差。

②采用模塊化設計，每個模塊是一個獨立試驗單元。每個模塊有獨立的試驗腔體，真正做到板與板之間完全獨立。每個試驗單元的風道互不影響。

③在調試模式下，無論是開通狀態(tài)還是關斷狀態(tài)下，均可以每隔一秒采集一次結溫Tj，描繪出完整的溫度變化曲線?？梢苑乐乖趯ふ以囼灄l件時損壞器件。

④三極管的試驗線路采用共基極試驗線路，更能滿足宇航級產(chǎn)品的試驗要求。

⑤設備上可配置K系數(shù)測試裝置。

產(chǎn)品特點

高精度，高穩(wěn)定性

支持雙界面
熱阻測試和結構函數(shù)測試

采樣速率1MHz/s

支持多種方
式實現(xiàn)Sic器件功率循環(huán)

高精度，高穩(wěn)定性

支持雙界面
熱阻測試和結構函數(shù)測試

采樣速率1MHz/s

支持多種方
式實現(xiàn)Sic器件功率循環(huán)

服務熱線

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